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产品信息

LTS420E-P

简介:
探针台主要为电性测量而设计。针尖镀金的探针可以连接在热台腔室内部的电极上,针座可以移动,保证针尖可以接触到热台上的任何一个区域。探针压在样品上的力度可以通过弹簧调整。
两种型号的探针台可以选择。LTS420-P主要为半导体器件的电性测量而设计。选择冷却系统,温度可以低到-196℃。
参数:
Ø 温度范围:室温到420℃ (选择冷却系统,可到-196℃)
Ø 全程温度精度/稳定性:0.1℃/<0.1℃
Ø 光孔直径:φ2.4mm
Ø 样品区域面积:38x62mm
Ø 4个样品探针,2个LEMO接头(BNC接头可以提供)
Ø 加热速率:0.1-50℃/min
Ø 超薄热台窗口:0.17mm
Ø zui小物镜/聚光镜工作距离:6.0/13.2mm
Ø 气密样品腔室,可充入保护性气体
Ø 滑动上盖易于样品导入
Ø 独立温度控制